Resumen:
La tecnologías y sus avances en el desarrollo de sistemas de imágenes
infrarrojas han permitido la exploración térmica a niveles antes impracticables,
extrapolando su uso e impacto desde la industria minera, metalúrgica, defensa y
astronómica, hasta las aplicaciones más demandantes de precisión, como lo es la
medicina, mediante la exploración exotérmica macroscópica de órganos, y la biología,
por medio de la exploración microscópica de organismos de orden milimétrico y submilimétrico.
A pesar de la gran cantidad de avances logrados en transductores infrarrojos,
para la fabricación de Arreglos de Plano Focal, la calidad de una imagen infrarroja sin
procesar aún evidencia una muy baja relación señal/ruido. Por otra parte, la óptica de
los sistemas dotados de magnificación, normalmente inducen aberraciones sobre su
plano focal, las que degradan la imagen de salida con importante borrosidad planoselectiva. Un sistema Opto-electrónico, por tanto, hereda ambas limitaciones, el ruido
de patrón fijo, también conocido como no-uniformidad, y la borrosidad producida por
desenfoque multi-planar. Causando grandes dificultades en el análisis de imágenes
infrarrojas para todo tipo de aplicaciones.
Referenciando la metodología adoptada y tras la necesidad de resolver la
pérdida de información al capturar imágenes térmicas de una muestra tridimensional
en un sistema microscópico infrarrojo, se diseñó un método que caracteriza el espacio
de visión de éste, en términos de su dispersión óptica para todo el campo de visión
tridimensional, para, una vez estimados sus indicadores de dispersión, aplicarlos a la
imagen de entrada mediante restauración por deconvolución a múltiples planos,
entregando en su salida una imagen plenamente enfocada.
Para este desarrollo, tiene la condición de resultado particularmente
importante, el uso único de técnicas de Procesamiento de Imágenes para la restauración multi-planar. Desarrollo que sustenta sus conclusiones en la
caracterización de un espacio volumétrico sin la necesidad de sistemas de escaneo e
involucrar tiempo de barrido, sin irradiar la muestra, como tecnologías confocales, y
sin la agregación de insumos de fluorescencia e invasión de muestra, sino el
procesamiento único de la radiación de emisión.
En consistencia al objetivo principal, esta investigación dirigió sus esfuerzos
resolver la pérdida de información térmica de un sistema de imágenes infrarrojo
microscópico, desarrollando un método que logra el pleno enfoque de un muestra
tridimensional a partir de una única imagen, por medio del Procesamiento de
Imágenes