DSpace Repository :: Browsing by Author "Valerio Quiroz, Yesenia del Carmen"

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Análisis de la vulnerabilidad educativa a través de la percepción de los riesgos tecnológicos. Comuna de Hualpén.
(Universidad de Concepción, 2017) Valerio Quiroz, Yesenia del Carmen; Virano Reyes, Patricia Zulema
La comuna de Hualpén posee un amplio parque industrial, el cual se encuentra ubicado en la periferia de la comuna, una de las empresas más importante es ENAP Refinería, Bío Bío, la cual se instaló en junio de 1966. La cercanía de la población con la industria genera un riesgo latente para la comunidad, estos riesgos son de origen antrópico industrial, ya que son generados por los procesos productivos, en los cuales se ocupan materias primas peligrosas. Se analizó la vulnerabilidad educativa presente en la población por medio de la percepción, se asignaron tres factores, Cohesión social, Cultura Preventiva, Enseñanza del Riesgo, los cuales se encuentran directamente relacionados con los principales actores sociales dentro de la problemática, los cuales son: junta de vecinos, municipalidad y empresa. A estos factores se les asignó un determinado número de variables, las que se desarrollaron en su mayoría por medio de encuestas, el resultado de estas, arrojó los niveles de vulnerabilidad que existen en cada territorio dependiendo de la variable analizada, los resultados de la Vulnerabilidades Educativas fueron espacializados con el software Arcgis 10.1.