Cuantificación y caracterización del Si en Pinus insigne Dougl mediante TXRF y otras técnicas espectroscópicas (Pixe, µSR-XRF).
| dc.contributor.advisor | Oliva Zapata, Julio Eduardo | es |
| dc.contributor.author | Navarro Fernández, Henry Luciano | es |
| dc.date.accessioned | 2021-06-18T09:57:11Z | |
| dc.date.accessioned | 2024-05-15T18:57:08Z | |
| dc.date.accessioned | 2024-08-28T22:32:32Z | |
| dc.date.available | 2021-06-18T09:57:11Z | |
| dc.date.available | 2024-05-15T18:57:08Z | |
| dc.date.available | 2024-08-28T22:32:32Z | |
| dc.date.issued | 2014 | |
| dc.description | Tesis para optar al grado de Magíster en Ciencias Mención Física | es |
| dc.description.abstract | En este trabajo se estudia la aplicabilidad, validez y calidad de los resultados de tres técnicas de análisis no destructivas, en la cuantificación del contenido de Si en maderas de pinus insigne de la VIII Región. El contenido de Si es de gran interés en la industria maderera, debido a que es el agente responsable del desgaste en las maquinarias de corte. Las técnicas estudiadas fueron TXRF, µSR-XRF, PIXE. La primera y segunda técnica son tipos de espectroscopia XRF que permiten determinar composición absoluta de pequeñas muestras con límites de detección en el rango de los ppb para TXRF, y ppm para µSR-XRF. La tercera técnica utiliza un grupo de Análisis de haz de Iones (IBA) y puede ser aplicada de forma directa (igualmente para µSR-XRF) en muestras de gran tamaño y determinar la composición absoluta de diferentes capas de la muestra con límites de detección en el rango de los ppm. En el Área de TXRF se desarrolla un procedimiento general para la obtención del espécimen a caracterizar, permitiendo cuantificar el silicio en Pinus Insigne Dougl. Tanto en el área de µSR-XRF y PIXE, se estudia la validez y exactitud en la determinación de los elementos principales de composición en regiones localizadas del material sin alteración de su estructura morfológica, determinando las concentraciones exactas en regiones superiores al duramen del Pinus Insigne. | es |
| dc.description.departamento | Departamento de Física. | es |
| dc.description.facultad | Facultad de Ciencias Físicas y Matemáticas | es |
| dc.identifier.uri | https://repositorio.udec.cl/handle/11594/6439 | |
| dc.language.iso | spa | es |
| dc.publisher | Universidad de Concepción. | es |
| dc.rights | Creative Commoms CC BY NC ND 4.0 internacional (Atribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0 Internacional) | |
| dc.rights.uri | https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/deed.es | |
| dc.source.uri | https://go.openathens.net/redirector/udec.cl?url=http://tesisencap.udec.cl/concepcion/navarro_f_h/index.html | |
| dc.subject | Pino Insigne - Investigaciones - Chile - Región del Bío Bío | es |
| dc.subject | Pino Insigne - Crecimiento | es |
| dc.subject | Pino Insigne - Procesamiento | es |
| dc.subject | Madera - Aplicaciones Industriales | es |
| dc.subject | Madera - Composición Química | es |
| dc.title | Cuantificación y caracterización del Si en Pinus insigne Dougl mediante TXRF y otras técnicas espectroscópicas (Pixe, µSR-XRF). | es |
| dc.type | Tesis | es |